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從顆粒檢測到材料溯源,清潔度設備的科學選型指南

瀏覽次數(shù):363 發(fā)布日期:2026-2-28  來源:本站 僅供參考,謝絕轉(zhuǎn)載,否則責任自負

在鋰電、汽車、鋼鐵與半導體等高端制造領域,微米級顆粒與非金屬夾雜物已成為影響可靠性、良率與產(chǎn)品壽命的關鍵因素。清潔度不再只是檢測項目,而是企業(yè)核心競爭力的重要組成部分?茖W選型,決定質(zhì)量上限。

01.鋰電清潔度管控

ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度檢測
【行業(yè)標準】
鋰電池中的銅、鋅、鐵等金屬異物可能導致嚴重的安全事故,對金屬異物的管控也已成為行業(yè)共識。飛納電鏡 ParticleX Battery 全自動鋰電清潔度分析系統(tǒng),基于掃描電鏡 + 能譜法可自動識別、分析和統(tǒng)計銅、鋅、鐵等金屬異物,進而幫助分析異物來源,改善生產(chǎn)條件,減少安全事故的發(fā)生。 

  • 全自動識別、分析、統(tǒng)計銅(Cu)/鋅(Zn)等金屬異物
  • 7x24h 無人值守,隔夜分析
  • 定制化分析程序,滿足各類

磷酸鐵鋰掃描電鏡圖(飛納電鏡)
磷酸鐵鋰掃描電鏡圖

金屬異物的統(tǒng)計結(jié)果(篩分法)
金屬異物的統(tǒng)計結(jié)果(篩分法)

金屬異物的平均成分(篩分法)
金屬異物的平均成分(篩分法)

自動獲取的磷化鐵的詳細信息
自動獲取的磷化鐵的詳細信息

02.汽車清潔度管控
ParticleX AC 全自動汽車清潔度檢測【電鏡法】
ParticleX 全自動汽車清潔度分析系統(tǒng)通過 SEM-EDS 自動化實現(xiàn)顆粒的尺寸、形貌與化學成分分析,被認為是目前“最有效的清潔度檢測方法之一”,能夠生成符合 ISO/VDA 標準的標準化報告,顯著提升顆粒污染可溯源性和檢測效率。

ParticleX AC 全自動汽車清潔度檢測

  • 基于 SEM 和 EDS 成分分析
  • 符合 VDA19 和 ISO16232 標準
  • 7X24h 全自動分析
  • 自動檢測 SiO, AlO 等硬質(zhì)顆粒并分類
從研發(fā)到生產(chǎn),ParticleX AC 提供的定量數(shù)據(jù)快速、準確又可靠,一鍵導出報告的功能更是省時省力。目前,奔馳、寶馬、博澤、三電、三花等國內(nèi)外知名車企都已投入使用。

汽車清潔度汽車清潔度檢測電鏡法

MicroQuick 高性價比清潔度快速分析儀
MicroQuick 顆粒掃描儀由 RJL 公司開發(fā),用于快速分析零部件的清潔度。該方法已成為行業(yè)標準已有 15 年多的歷史,并且符合 VDA-19.1 和 ISO-16232 標準。這款高分辨率顆粒掃描儀能夠在不到 3 分鐘的時間內(nèi)自動確定殘留污染物顆粒的數(shù)量、大小、形狀以及金屬光澤。

高性價比清潔度快速分析儀

  • 行業(yè)標準:符合 VDA19 / ISO16232
  • 快速簡便:2.5 分鐘內(nèi)完成過濾分析并生成報告
  • 絕對可靠:10 年內(nèi)零維修案例
  • “零”維護:自行校準,自動生成審計報告

汽車零部件清潔度檢測綜合解決方案

03. 鋼鐵夾雜物檢測
ParticleX Steel 全自動鋼鐵夾雜物分析
ParticleX Steel 實現(xiàn)了從樣品制備、圖像采集、成分分析到報告生成的全流程自動化。技術突破在于將掃描電鏡與能譜儀一體化集成,能夠自動識別、分析數(shù)萬至數(shù)十萬個夾雜物顆粒,并依據(jù)國際標準進行分類統(tǒng)計。ParticleX 全自動夾雜物分析系統(tǒng)可對大尺寸樣品進行原位統(tǒng)計,輸出夾雜物數(shù)量、尺寸分布、體積分數(shù)及三元相圖成分分布等結(jié)果。相比手動分析,效率提升 10 倍以上,且支持一鍵定位異常夾雜物進行深度分析。

全自動鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)

通過 ParticleX Steel,可以獲得如下結(jié)果: 
01.大量夾雜物的形貌,尺寸,成分,以及分類

夾雜物尺寸

02.各類夾雜物的分布情況(按數(shù)量分布)

03.不同種類夾雜物的成分及含量信息(均值)

04.將夾雜物的組成分布體現(xiàn)在自定義的三元分布圖

05.極值分析,預測最大夾雜物尺寸

06.重新定位特定夾雜物,成分面分布掃描

鋼鐵行業(yè)部分用戶

04.Fastmicro 潔凈室與制程監(jiān)控
環(huán)境落塵顆粒實時監(jiān)控儀 PFS
Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實時監(jiān)控儀,專為潔凈室顆粒沉積速率測量而研發(fā),支持秒級間隔的數(shù)據(jù)采集,精準測量 0.5μm 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的軟件系統(tǒng),幫助客戶實現(xiàn)從單純空氣監(jiān)測向表面潔凈度監(jiān)測的跨越式升級,為工藝流程優(yōu)化和潔凈度持續(xù)改進提供科學依據(jù)。

環(huán)境落塵顆粒實時監(jiān)控儀 PFS

  • 符合 ISO 14644-17 標準
  • 可檢測低至 0.5μm 顆粒
  • 10 秒完成 2 英寸面積檢測
  • 適用于真空與常壓環(huán)境
儀器表面顆粒物分析儀 SAS
Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀,是一款基于“膠帶粘取”采樣技術的表面污染檢測工具,可通過間接測量方式識別小至 0.5μm 的顆粒污染物。其配備的專用 PMC 采樣卡能在各類表面(包括難以觸及區(qū)域和高粗糙度表面)實現(xiàn)靈活采樣,且不會殘留可檢測的痕跡。該設備可在數(shù)秒內(nèi)完成 225mm 采樣區(qū)域的分析,確?焖佾@得精準檢測結(jié)果。搭配 2 英寸晶圓支架,也可對沉降顆粒進行檢測,滿足跨行業(yè)復雜場景的檢測需求。

  • 符合 ISO 14644-9 標準
  • 可檢測低至 0.5μm 顆粒
  • 90% 采集效率 | >90% 重復性
  • 10 秒完成檢測
  • ASML 也在用!

Dr. Ir. L.H.A. Leunissen | ASML, cleanliness project manager 說到:“作為長期合作伙伴,F(xiàn)astmicro 的整合應用使我們達成了設備缺陷率指標要求。該設備不僅測量精準,更具備操作簡便和高通量特性。我們高度認可 Fastmicro 的專業(yè)服務,并期待未來通過深度合作進一步拓展設備的功能邊界。”

發(fā)布者:復納科學儀器(上海)有限公司
聯(lián)系電話:400-857-8882
E-mail:cici.yang@phenom-china.com

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