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利用Enersight半自動膜厚測量工具提升檢測效率

瀏覽次數(shù):141 發(fā)布日期:2026-3-20  來源:徠卡顯微鏡
在制造行業(yè)中,膜厚測量幾乎出現(xiàn)在所有關(guān)鍵環(huán)節(jié):從金屬鍍層、表面涂層處理到精密零件加工,再到電子與半導體材料品質(zhì)控制,膜層厚度的精確性直接影響產(chǎn)品性能與可靠性。

然而,傳統(tǒng)的手動測量方式往往效率有限,也容易產(chǎn)生人為差異。面對高節(jié)奏、高良率的產(chǎn)線需求,如何高效快速且準確地獲取樣品及工件的膜層厚度,是當下質(zhì)量控制中越來越關(guān)注的問題。

在許多工廠中,手動膜厚測量仍然是主流方式,但它存在一些不可忽視的問題:
  • 操作者手法不同,導致重復性差
  • 需要長時間反復操作,勞動強度高
  • 測量節(jié)奏難以保持一致
  • 數(shù)據(jù)需要手工記錄,容易出現(xiàn)錯誤
為應對手動測量的局限性,徠卡Enersight軟件平臺推出半自動膜厚測量工具,鼠標快速劃過,即可自動識別膜層邊界,快速給出不同位置厚度數(shù)值,以及最大厚度、最小厚度、平均厚度等。



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