磁約束等離子體的電子束離子阱光譜研究
瀏覽次數(shù):710 發(fā)布日期:2025-12-24
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(論文部分內(nèi)容摘抄)
光譜學(xué)是所有等離子體的一種有價(jià)值的、非侵入性的診斷方法。特別是在加州大學(xué)所做的工作一NIA的勞倫斯利弗莫爾國(guó)家實(shí)驗(yàn)室(LLNL)電子束離子阱(EBIT)設(shè)施繼續(xù)為原子物理建立有用的基準(zhǔn),可用于診斷不太為人所知的等離子體的特性。許多光譜儀已被開發(fā)并用于LLNL電子束離子阱。每一個(gè)都是最先進(jìn)的儀器,其中許多可以適應(yīng)診斷磁約束等離子體。在這些新環(huán)境中,他們通過(guò)提供其他方面無(wú)法獲得的等離子體條件數(shù)據(jù),對(duì)科學(xué)做出了貢獻(xiàn)。

其中包括用于國(guó)家球面圓周實(shí)驗(yàn)(NSTX)的用于軟X射線和極紫外光的平板場(chǎng)放牧入射反射光柵光譜儀。以及一個(gè)用于SSPX的較長(zhǎng)波長(zhǎng)光譜儀。最后介紹了一種高光譜分辨率透射光柵光譜儀給出了在緊湊環(huán)形注入實(shí)驗(yàn)(CTIX)和AlcatorC-Mod托卡馬克裝置上使用的可見光。在所有情況下,EBIT光譜儀都提供了關(guān)于等離子體滲透率的寶貴數(shù)據(jù),因此這些光譜儀已納入這些設(shè)施的通用診斷套件,并持續(xù)提供數(shù)據(jù)。
在電子束離子阱中的實(shí)驗(yàn)為了便于理解,再次介紹透射光柵光譜儀的特性以及它在電子束離子阱中的一些用途描述如下。光柵的直徑以及相對(duì)較大但焦距較小的聚焦光學(xué)允許高光學(xué)吞吐量。該探測(cè)器是一個(gè)二維光度學(xué)低溫冷卻,背照式相機(jī)這種探測(cè)器允帶寬在3600到6700之間的任何地方。電子束的寬度,再次作為一個(gè)偽入射狹縫。
本探測(cè)器是所述的低讀噪聲照相機(jī)是德國(guó)pco.edge型號(hào)相機(jī),信噪比有了很大的提高。在降低讀出噪聲時(shí)所獲得的好處也會(huì)在讀出速率(例如1幀/分鐘)中損失。時(shí)間分辨率是通過(guò)在放電期間將相機(jī)垂直地移動(dòng)通過(guò)放電平面來(lái)實(shí)現(xiàn)的,這使得光譜測(cè)量的數(shù)量級(jí)為100赫茲。
德國(guó)Excelitas PCO公司pco.edge 4.2 bi XU高速相機(jī),采用背照式CMOS傳感器,具有極其特殊的涂層,非常適合用于從可見光到極紫外(EUV)和軟X射線輻射范圍的應(yīng)用,將極紫外實(shí)驗(yàn)過(guò)程完美記錄,為實(shí)驗(yàn)提供強(qiáng)而有力的圖像數(shù)據(jù)支持。
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